Sigma arendab oma objektiividele uusi peegeldumisvastaseid katteid

Sigma on esitanud patendi mitmekihilise läätsekihi väljatöötamiseks, mis koosneb 6 erineva murdumisnäitajaga kihist, mis tagab madala peegeldumisvõime laias lainepikkuste vahemikus.

Patendi üksikasjad.

1. Kihtide omadused

Esimesel kihil on kõrge koefitsient. murdumine alates 1.6 kuni 2.5 ja selle paksus on alates 0,045λ kuni 0,911λ

Teisel kihil on madal koefitsient. murdumisnäitajad alates 1.3:1.5 ja selle paksus on vahemikus 0,025λ kuni 0,166λ

Kolmanda kihi puhul on kõrge koefitsient. murdumisnäitaja alates 1.6 kuni 2.5 ja selle paksus on vahemikus 0,038λ kuni 0,375λ

Neljanda kihi murdumisnäitaja on madal. murdumine alates 1.3:1.5 ja selle paksus on vahemikus 0,048λ kuni 0,152λ

Viiendal kihil on kõrge murdumisnäitaja. murdumisnäitajad alates 1.8 kuni 2.5 ja selle paksus on alates 0,045λ kuni 0,119λ

Kuuendal kihil on madal koefitsient. murdumine alates 1.1:1.3 ja selle paksus on vahemikus 0,228λ kuni 0,3131λ

2. Kihtide materjalid

Kuues kiht võib olla valmistatud ränidioksiidist, magneesiumfluoriidist, alumiiniumoksiidist ja optilisest vaigust või nende materjalide segust

Esimene, kolmas ja viies kiht võivad olla valmistatud sellistest materjalidest nagu tseeriumoksiid, hafniumoksiid, indiumoksiid, nioobiumoksiid, tinaoksiid, tantaaloksiid, titaanoksiid, ütriumoksiid, tsirkooniumoksiid, praseodüümoksiid või eespool nimetatud oksiidide segud.

Teine ja neljas kiht on valmistatud alumiiniumoksiidist, magneesiumfluoriidist, ränioksiidist või nende oksiidide segust.

3. Rakendusmeetodid

Esimese, teise, kolmanda, neljanda ja viienda kihi puhul kasutatakse ühte järgmistest sadestamismeetoditest: vaakumsaadestamine, sputterdamine, CVD või ALD

Kuues kiht moodustub märgkihi pealekandmise teel